Effect of Interlayer Dwell on Residual Stress in Laser Hot Wire Directed Energy Deposition Ti-6Al-4V: An Experimental and Modeling Study
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4Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Effect of Interlayer Dwell on Residual Stress in Laser Hot Wire Directed Energy Deposition Ti-6Al-4V: An Experimental and Modeling Study
- Date Crossref
- 01/01/2026
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- posted-content
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
Carnegie Mellon UniversityGovernment of the United States of AmericaUniversity of California, DavisOak Ridge National Laboratory
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Les sujets associés
Additive Manufacturing Materials and ProcessesWelding Techniques and Residual StressesHigh Entropy Alloys Studies