Correction: Amato et al. Detecting Important Features and Predicting Yield from Defects Detected by SEM in Semiconductor Production. Sensors 2025, 25, 4218
0Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
7Institutions déclarées
3Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : it, us, be. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
In the published publication [...].
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Correction: Amato et al. Detecting Important Features and Predicting Yield from Defects Detected by SEM in Semiconductor Production. Sensors 2025, 25, 4218
- Date Crossref
- 13/08/2026
- Éditeur
- MDPI AG
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
National Research CouncilIstituto per le Applicazioni del Calcolo Mauro PiconeSiemens Healthcare (United States)KU LeuvenInstitute for Microelectronics and MicrosystemsSTMicroelectronics (Italy)Kessler Foundation
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.