Thickness-directed oxide-templated conversion of sputtered tungsten films into WS 2 nanotubes
Rattachement africain : nl, es. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
monolayer reference is near the detection limit. These results establish film thickness as a synthetic handle for curved transition-metal dichalcogenide architectures and identify these self-formed nanostructures as a promising platform for nonlinear nanophotonics.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé, mais le titre doit être comparé manuellement.
- Titre Crossref
- Thickness-directed oxide-templated conversion of sputtered tungsten films into WS <sub>2</sub> nanotubes
- Date Crossref
- 01/01/2026
- Éditeur
- Royal Society of Chemistry (RSC)
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
-
Delft University of Technology Kavli Institute of Nanoscience pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Universidad Complutense de Madrid pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Instituto de Química Física Blas Cabrera pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
Faculty of Physics Optics Department pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Kavli Institute of Nanoscience — Delft University of Technology, Universidad Complutense de Madrid et Instituto de Química Física Blas Cabrera, avec 1 autre affiliation.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.