Impact of short-circuit accelerated aging on the EMI behavior of high-power density GAN-based converters used in automotive applications
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Contrôle bibliographique ouvert
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- Titre Crossref
- Impact of short-circuit accelerated aging on the EMI behavior of high-power density GAN-based converters used in automotive applications
- Date Crossref
- 01/12/2026
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
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Institutions déclarées
École Supérieure d'Ingénieurs en Génie ÉlectriqueNormandie UniversitéUniversité de Rouen NormandieUniversity of Sousse
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Sujets associés
Silicon Carbide Semiconductor TechnologiesElectromagnetic Compatibility and Noise SuppressionSemiconductor materials and devices