A dual-substrate X-ray CT platform for in situ high-resolution and high-throughput phenotyping of crop root systems
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Résumé fourni par la source
A dual-substrate X-ray CT platform using high-contrast media and modular scanning overcomes traditional resolution and size limits to enable large-scale, high-resolution 3D in situ root phenotyping.
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Contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- A dual-substrate X-ray CT platform for in situ high-resolution and high-throughput phenotyping of crop root systems
- Date Crossref
- 01/07/2026
- Éditeur
- Oxford University Press (OUP)
- Type
- journal-article
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Institutions déclarées
South China Agricultural UniversityNihon Nohyaku (Japan)Shimadzu (China)University of HelsinkiChina Shenhua Energy (China)
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Sujets associés
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