2026 conference-paper

Memory ECC Logic Testing using MBIST

Wei Zou, Artur Pogiel, Martin Keim, Albert Au, Jongsin Yun, Luc Romain

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Rattachement africain : ca. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

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Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Memory ECC Logic Testing using MBIST
Date Crossref
25/05/2026
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

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Où se fait cette recherche

  • Siemens (Canada) pays non établi dans la notice
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Siemens (Canada) et Siemens EDA.

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Les sujets associés

VLSI and Analog Circuit TestingRadiation Effects in ElectronicsEngineering and Test Systems
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