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2026 article

Field-induced electronic evolution in the correlated semimetal Eu 3 In 2 As 4

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Rattachement africain : cn, cz. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé, mais le titre doit être comparé manuellement.

Titre Crossref
Field-induced electronic evolution in the correlated semimetal <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML"> <mml:mrow> <mml:msub> <mml:mi>Eu</mml:mi> <mml:mn>3</mml:mn> </mml:msub> <mml:msub> <mml:mi>In</mml:mi> <mml:mn>2</mml:mn> </mml:msub> <mml:msub> <mml:mi>As</mml:mi> <mml:mn>4</mml:mn> </mml:msub> </mml:mrow> </mml:math>
Date Crossref
30/07/2026
Éditeur
American Physical Society (APS)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Chinese Academy of Sciences pays non établi dans la notice
    Organisme public
  • FZU ‒ Institute of Physics of the Academy of Sciences of the Czech Republic pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • University of Chinese Academy of Sciences pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Huazhong University of Science and Technology pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Binzhou Institute of Technology pays non établi dans la notice
    Structure de recherche

Chinese Academy of Sciences, FZU ‒ Institute of Physics of the Academy of Sciences of the Czech Republic et University of Chinese Academy of Sciences, avec 2 autres affiliations.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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