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Accès ouvert déclaré 2026 article

Imaging calculation of coherent transition radiation Michelson interferometry for adaptive bunch profile reconstruction

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Rattachement africain : us, jp. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

We present a methodological study for measuring electron-bunch temporal profiles using coherent transition radiation Michelson interferometry. A numerical frequency-filter model is established through imaging calculations of the experimental setup, accounting for the electron-bunch transverse profile, finite angular acceptance, and detector size. An adaptive genetic-algorithm-based forward-fitting approach is implemented to retrieve arbitrary bunch temporal profiles, demonstrating advantages over the classical Kramers-Kronig minimum-phase method. The frequency-filter model, together with the adaptive fitting framework, provides a robust tool for electron-bunch temporal profile characterization in beam physics studies.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Imaging calculation of coherent transition radiation Michelson interferometry for adaptive bunch profile reconstruction
Date Crossref
29/07/2026
Éditeur
American Physical Society (APS)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • University of California System pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • National Institutes for Quantum Science and Technology pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • Kansai Institute for Photon Science (KPSI) pays non établi dans la notice
    Structure de recherche

University of California System, National Institutes for Quantum Science and Technology et Kansai Institute for Photon Science (KPSI).

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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