2026 conference-paper

Development of a cryogenic high precision refractive index measurement system for CdZnTe using the minimum deviation method

Chenhao Zhao, Yasuhiro Hirahara, Yuan Li, Biao Zhao, Shohei Negishi, Ryoichi Koga, Umi Enokidani, Hideo Matsuhara, Shunsuke Baba, Takao Nakagawa, Takehiko Wada

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Titre Crossref
Development of a cryogenic high precision refractive index measurement system for CdZnTe using the minimum deviation method
Date Crossref
21/08/2026
Éditeur
SPIE
Type
proceedings-article

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