Laser Fluence Dependence of Nanodot Structures Formed on Silicon Solar Cell Surfaces
Rattachement africain : jp. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
This study investigated the density and particle size distribution of nanodot structures formed on the surface of silicon solar cells by irradiation with a KrF excimer laser (248 nm). Silicon solar cell substrates were irradiated at the following laser fluences below or around the melting threshold of Fth_248 = 0.47 J/cm2. As laser fluence decreased, nanodot density initially increased, reaching a maximum value of 65 dots/µm2 at a laser fluence of 0.62 Fth_248. The average size of the nanodots showed a maximum value of 105.1 nm following irradiation at a laser fluence of 0.87 Fth_248 with the size decreasing at fluences lower than this value.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Laser Fluence Dependence of Nanodot Structures Formed on Silicon Solar Cell Surfaces シリコン太陽電池表面に形成されたナノドット構造のレーザフルエンス依存性
- Date Crossref
- 01/07/2026
- Éditeur
- Institute of Electrical Engineers of Japan (IEE Japan)
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
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