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2026 article

SynReEM: Synapse Reconstruction via Instance Structure Encoding in Anisotropic Electron Microscopic Volumes

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Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Volume electron microscopy (vEM) has revolutionized the nanoscale reconstruction of synapses in neural circuits. However, large-scale vEM techniques relying on serial sectioning suffer from severe anisotropy, where axial resolution is far worse than lateral resolution. This anisotropic imaging induces discontinuities in biological architectures across 3D space, compromising reconstruction accuracy and instance segmentation of synapses. Although synapse reconstruction can be realized via aggregation of segmented voxels or detected superpixels, conventional semantic and instance-level models fail to learn voxel instance attributes robustly from strong anisotropic datasets. Here, we present SynReEM, a dedicated framework for synapse reconstruction. Specifically, we first conduct structural encoding on synapse annotations to optimize structural components, making instance segmentation feasible within a semantic context. Then, we incorporate biological priors to impose continuity and inclusion constraints on model outputs, leveraging online pseudo-labels to enhance model convergence. Furthermore, we design a dual-headed branch for simultaneous semantic and instance decoding from shared feature maps, fuse the multi-task outputs, and adopt the watershed algorithm to achieve accurate instance reconstruction. Comprehensive evaluations on three vEM datasets containing synapses (Synapse178, AC3/AC4, and SynWTAD) consistently confirm the superior performance of our proposed SynReEM method.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
SynReEM: Synapse Reconstruction via Instance Structure Encoding in Anisotropic Electron Microscopic Volumes
Date Crossref
01/09/2026
Éditeur
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Chinese Academy of Sciences pays non établi dans la notice
    Organisme public
  • Shanghai Jiao Tong University Shanghai Institute of Precision Medicine pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Shanghai Ninth People's Hospital pays non établi dans la notice
    Établissement de santé
  • Capital Medical University pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Institute of Automation pays non établi dans la notice
    Structure de recherche

Chinese Academy of Sciences, Shanghai Institute of Precision Medicine — Shanghai Jiao Tong University et Shanghai Ninth People's Hospital, avec 2 autres affiliations.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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