Aperture-Integrated Biplanar Coil Based on an Improved Target-Field Method for Chip-Scale Magnetometer
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Aperture-Integrated Biplanar Coil Based on an Improved Target-Field Method for Chip-Scale Magnetometer
- Date Crossref
- 01/01/2026
- Éditeur
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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Beihang University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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School of Instrumentation and Optoelectronic Engineering Key Laboratory of Ultra-Weak Magnetic Field Measurement Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Beihang University et Key Laboratory of Ultra-Weak Magnetic Field Measurement Technology — School of Instrumentation and Optoelectronic Engineering.
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