TypiCD: Cognitive Diagnosis via Problem-Type-Guided Bias Correction
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Rattachement africain : cn, us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- TypiCD: Cognitive Diagnosis via Problem-Type-Guided Bias Correction
- Date Crossref
- 01/08/2026
- Éditeur
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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University of Science and Technology of China pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Hefei Institutes of Physical Science pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Amazon (United States) pays non établi dans la noticeEntreprise
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Hebei University of Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Anhui University State Key Laboratory of Opto-Electronic Information Acquisition and Protection Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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School of Information Science and Technology Department of Electronic Engineering and Information Science pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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School of Artificial Intelligence pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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School of Computer Science and Technology Key Laboratory of Intelligent Computing and Signal Processing pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
University of Science and Technology of China, Hefei Institutes of Physical Science et Amazon (United States), avec 5 autres affiliations.
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