130-nm CMOS-Integrated Superparamagnetic Tunnel Junction-Based p-bit
Rattachement africain : jp, us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Probabilistic computers offer promising solutions for computationally hard problems in domains such as combinatorial optimization and machine learning. A key building block in these systems is the probabilistic bit (p-bit), which relies on superparamagnetic tunnel junctions (sMTJs) as its source of randomness. A challenging threshold to cross for scaling sMTJ-based p-bit systems is integration of sMTJs with CMOS technology. In this work, we present experimental results of a p-bit unit cell using sMTJs integrated with 130 nm CMOS technology and demonstrate that the sMTJ’s resistance fluctuations can generate a corresponding fluctuating digital output voltage which is tunable via the input voltage. These findings establish the feasibility of CMOS-compatible, sMTJ-based probabilistic circuits and mark a key step toward scalable hardware for real-world probabilistic computing applications.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- 130-nm CMOS-Integrated Superparamagnetic Tunnel Junction-Based p-bit
- Date Crossref
- 01/07/2026
- Éditeur
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
-
Spintronics Research Network of Japan pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
Physical Measurement Laboratory pays non établi dans la noticeOrganisme public
-
Material Measurement Laboratory pays non établi dans la noticeOrganisme public
-
Tohoku University Laboratory for Nanoelectronics and Spintronics pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Spintronics Research Network of Japan, Physical Measurement Laboratory et Material Measurement Laboratory, avec 1 autre affiliation.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.