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Accès ouvert déclaré 2026 article

Artifact-Aware Fungal Detection in Dermatophytosis: A Transformer-Based Approach for KOH Microscopy

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Rattachement africain : tr, gb. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Dermatophytosis is commonly assessed using potassium hydroxide (KOH) microscopy, yet accurate recognition of fungal hyphae is hindered by preparation-related artifacts, heterogeneous keratin clearance, and notable inter-observer variability. This study presents a transformer-based object detection framework using the RT-DETR architecture for precise, query-driven localisation of fungal structures in high-resolution KOH images. A dataset of 2540 routinely acquired microscopy images was manually annotated using a multi-class strategy that explicitly distinguishes fungal elements from confounding artifacts, enabling the model to actively suppress false detections arising from visually similar mimics. To assess architectural trade-offs, RT-DETR was benchmarked against two CNN-based detectors (YOLOv11 and Faster R-CNN) under identical training and inference conditions. Five-fold stratified cross-validation was performed, and each fold-level model was evaluated on the same independent held-out test set (n = 254). Across the five evaluations, RT-DETR achieved a mean AP@0.50 of 89.73%±1.48%, a mean recall of 0.831±0.011, and a mean precision of 0.921±0.014. At the image level, the model achieved a mean sensitivity of 0.989±0.022 on the independent test set, with a mean of 0.2±0.4 missed positive cases across the five evaluations. These results demonstrate the technical feasibility of a transformer-based artificial intelligence (AI) system as a decision-support aid for fungal region detection in KOH microscopy, pending prospective multi-center validation to establish clinical generalisability.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Artifact-Aware Fungal Detection in Dermatophytosis: A Transformer-Based Approach for KOH Microscopy
Date Crossref
21/05/2026
Éditeur
MDPI AG
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

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