Correlative Chemical Imaging to Reveal the Nature of Different Commercial Graphene Materials (Small Methods 9/2026)
Rattachement africain : de, it, es, gb. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Front Cover In article number e02344, Ievgen S. Donskyi, Vasile-Dan Hodoroaba, and co-workers present a straightforward correlative imaging approach for locating graphene flakes and impurities on the nanoscale within an ink as a highly complex matrix. A systematic comparison of different surface imaging methods demonstrates that the combination of time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and scanning electron microscopy (SEM) provides the most effective strategy for visualizing and identifying these features, helping to shed light in the dark.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Correlative Chemical Imaging to Reveal the Nature of Different Commercial Graphene Materials (Small Methods 9/2026)
- Date Crossref
- 01/05/2026
- Éditeur
- Wiley
- Type
- journal-article
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Les institutions déclarées
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