Aller au contenu principal
2026 article

Development Toward Tungsten Transition-Edge Sensors With Improved Energy Resolution in the Optical/NIR Regime

0Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
1Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

We formulate an energy resolution model for optical transition-edge sensors which combines aspects of existing models with the goal of better defining and constraining energy resolution optimization. The combined model is found to be in better agreement with experimental data, while also allowing for theoretical exploration of phonon trapping for energy resolution enhancement. Additionally, we present preliminary data from our recent low critical temperature ($T_\textrm {c}$= 50 mK to 100 mK) tungsten Transition Edge Sensors (TESs) for the optical to Near Infra-Red (NIR) regime. Our tungsten TES detectors are shown to exhibit curious ‘inverse’ proximity effects compared to what is generally reported in the literature. A variety of wiring scheme test structures are analyzed under varying magnetic field shielding conditions in an effort to mitigate and characterize these spurious effects on the device$T_\textrm {c}$. We develop an electron beam lithography fabrication method in order to reduce the edge roughness of our tungsten TES devices, and demonstrate a more uniform$T_\textrm {c}$across various TES sizes when these e-beam lithography devices are measured within superconducting magnetic shielding.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Development Toward Tungsten Transition-Edge Sensors With Improved Energy Resolution in the Optical/NIR Regime
Date Crossref
01/09/2026
Éditeur
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Superconducting and THz Device TechnologyAdvanced Semiconductor Detectors and MaterialsParticle Detector Development and Performance

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.