Scanning X-ray Photoemission Microscopy: a Tool to Probe the Local Electronic Structure of Devices Under Operando Conditions
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4Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : fr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Scanning X-ray Photoemission Microscopy: a Tool to Probe the Local Electronic Structure of Devices Under Operando Conditions
- Date Crossref
- 15/12/2025
- Éditeur
- FUNDACIO DE LA COMUNITAT VALENCIANA SCITO
- Type
- proceedings-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
Centre National de la Recherche ScientifiqueSynchrotron SOLEILSorbonne UniversitéInstitut des NanoSciences de Paris
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Les sujets associés
Electron and X-Ray Spectroscopy TechniquesAdvanced Electron Microscopy Techniques and ApplicationsSemiconductor materials and interfaces