Design, optimization, and simulation of a silicon pore optics-based X-ray interferometer
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4Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : nl. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Design, optimization, and simulation of a silicon pore optics-based X-ray interferometer
- Date Crossref
- 10/04/2026
- Éditeur
- SPIE-Intl Soc Optical Eng
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
Delft University of TechnologyNetherlands Organisation for Applied Scientific ResearchSpace Research Organisation NetherlandsCosine (Netherlands)
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Les sujets associés
Advanced X-ray Imaging TechniquesCrystallography and Radiation PhenomenaOptical Polarization and Ellipsometry