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2026 article

Lensless quantitative microscopy based on multi-angle illumination and coded ptychographic phase retrieval

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Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Coded ptychography (CP) enables high-resolution, large field-of-view (FOV) imaging of complex objects. However, conventional CP struggles to recover low-frequency phase components, as these cannot be effectively converted into detectable intensity variations through coded image sensor translation, limiting reconstruction fidelity. Here, we report a novel lensless microscopy method that integrates multi-angle illumination with coded ptychographic phase retrieval. In this platform, the tube lens is laterally translated to generate angle-varied plane waves as phase diversity measurements, while a coded image sensor beneath the object captures the resulting diffraction patterns. The spatial modulation provided by the coded layer imposes support constraints for quantitative phase recovery. To address the issue of positioning accuracy, we directly recover the incident beam angles from the captured images. To overcome the challenge of restoring the slow-varying phase contents with multiple 2π wraps, we conduct a calibration experiment to characterize the transmission profile of the coded layer, providing deterministic constraints for the phase retrieval process. We validate the proposed approach using various samples. The approach achieves a 5.6 mm by 7.4 mm FOV with a half-pitch resolution of 0.96 μm. It offers a large FOV, high-resolution, and quantitative on-chip microscopy, making it adaptable for applications in point-of-care, global health, and telemedicine.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Lensless quantitative microscopy based on multi-angle illumination and coded ptychographic phase retrieval
Date Crossref
24/04/2026
Éditeur
Optica Publishing Group
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Advanced X-ray Imaging TechniquesDigital Holography and MicroscopyAdvanced Electron Microscopy Techniques and Applications

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