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Accès ouvert déclaré 2026 article

Dual-Side Hybrid Embedding Network for Gain Enhancement of Terahertz Amplifiers at Frequencies Near fmax

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Le résumé fourni par la source

This paper proposes a dual-side hybrid embedding network (DHEN) to mitigate gain degradation in terahertz amplifiers at frequencies near fmax. The proposed approach employs a pre-embedding network for parasitic absorption, followed by Y-embedding for gain enhancement. A theoretical analysis is conducted to derive the embedding conditions for process-constrained circuit synthesis. In this architecture, a capacitive base-side pre-embedding provides intrinsic DC isolation, while a defected-ground-structure (DGS) inductor realizes the Y-embedding inductive element with reduced layout area. Based on the DHEN, a four-stage amplifier is designed in a 130 nm SiGe BiCMOS process. Electromagnetic co-simulation results demonstrate a power gain of 19.3 dB at 280 GHz, corresponding to an 11.5 dB improvement over a conventional unboosted amplifier. The proposed approach provides a unified synthesis methodology that simultaneously addresses parasitic absorption, DC isolation, and gain enhancement for near-fmax THz amplifier design.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Dual-Side Hybrid Embedding Network for Gain Enhancement of Terahertz Amplifiers at Frequencies Near fmax
Date Crossref
31/03/2026
Éditeur
MDPI AG
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Beijing University of Posts and Telecommunications pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • School of Electronic Engineering pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure

Beijing University of Posts and Telecommunications et School of Electronic Engineering.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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