2009 conference-paper

De-Embedding Method Using EM Simulator for Characterization of FETs and Its Applicability to Lossy Substrates

拓一 平野, Takuichi Hirano, 洋 中野, Hiroshi Nakano, 康剛 平地, Yasutake Hirachi, 二郎 廣川, JIRO HIROKAWA, 真 安藤, Makoto Ando

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