2018 article

Heavy-Ion Soft Errors in Back-Biased Thin-BOX SOI SRAMs: Hundredfold Sensitivity Due to Line-Type Multicell Upsets

大輔 小林, 和之 廣瀬., 大智 伊藤, 友哉 梯, 治 川崎, 高紘 牧野, 武 大島, 大介 松浦, 貴則 成田, 昌浩 加藤, 茂 石井, 一範 益川, Daisuke Kobayashi, Kazuyuki Hirose, Taichi Ito, Yuya Kakehashi, Osamu Kawasaki, Takahiro Makino, Takeshi Ohshima, Daisuke Matsuura, Takanori Narita, Masahiro Kato, Shigeru Ishii, Kazunori Masukawa

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