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Soft errors in 10-nm-scale magnetic tunnel junctions exposed to high-energy heavy-ion radiation

大輔小林, 和之廣瀬., 高紘牧野, 忍小野田, 武大島, 正二池田, 英夫佐藤, Eli Christopher I. Enobio, 哲郎遠藤, 英男大野, Daisuke Kobayashi, Kazuyuki Hirose, Takahiro Makino, Shinobu Onoda, Takeshi Ohshima, Shoji Ikeda, H. Sato, Tetsuo Endoh, Hideo Ohno

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