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2026 article

Perspectives on Nanosecond Ultraviolet Laser Annealing Solutions for Display Panels and Semiconductor Wafers

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Le résumé fourni par la source

Nanosecond ultraviolet (UV) laser annealing at wavelengths of 355 nm and below has emerged as a versatile solution for advanced material processing, offering precise control over thin‐film modification while minimizing thermal damage to underlying substrates. By delivering high‐energy pulses, UV nanosecond annealing enables localized heating and rapid quenching, which promotes defect passivation, crystallization, and conductivity enhancement in semiconductors and transparent conductive oxide layers. This technique is particularly advantageous for temperature‐sensitive applications such as flexible electronics, solar cells, and display technologies, where conventional furnace annealing is unsuitable. Studies demonstrate that nanosecond UV laser annealing significantly improves the electrical performance of amorphous oxide semiconductors, reduces sheet resistance in transparent conductive films, and enhances device stability without compromising substrate integrity. The short‐wavelength UV light ensures strong absorption in thin films, allowing efficient energy transfer and selective processing. Moreover, the scalability and compatibility of this method with industrial manufacturing make it a promising candidate for next‐generation optoelectronic devices. Today, nanosecond UV laser annealing solutions provide a high‐throughput, noninvasive, and cost‐effective pathway to engineer material properties at the nanoscale. Their ability to combine precision with efficiency positions them as enabler in the development of high‐performance and energy‐efficient electronic systems on wafers and panels.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Perspectives on Nanosecond Ultraviolet Laser Annealing Solutions for Display Panels and Semiconductor Wafers
Date Crossref
02/03/2026
Éditeur
Wiley
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Coherent (Germany) pays non établi dans la notice
    Entreprise
  • Coherent LaserSystems GmbH &amp pays non établi dans la notice
    Entreprise

Coherent (Germany) et Coherent LaserSystems GmbH &amp.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Laser Material Processing TechniquesThin-Film Transistor TechnologiesSilicon and Solar Cell Technologies

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