OCC-DEIM: Simultaneous optimization of detection accuracy and computational efficiency for embedded steel defect inspection systems
Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- OCC-DEIM: Simultaneous optimization of detection accuracy and computational efficiency for embedded steel defect inspection systems
- Date Crossref
- 01/04/2026
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.