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Accès ouvert déclaré 2026 article

Structural origin of resonant diffraction in RuO 2

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3Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us, gb, jp. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé, mais le titre doit être comparé manuellement.

Titre Crossref
Structural origin of resonant diffraction in <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML"> <mml:msub> <mml:mi>RuO</mml:mi> <mml:mn>2</mml:mn> </mml:msub> </mml:math>
Date Crossref
26/02/2026
Éditeur
American Physical Society (APS)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Stanford Synchrotron Radiation Lightsource pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • National Synchrotron Light Source II pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • Columbia University pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Diamond Light Source pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • Massachusetts Institute of Technology pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • The University of Tokyo pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • RIKEN pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • Toyota Physical and Chemical Research Institute pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • Institute of Science Tokyo pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Argonne National Laboratory pays non établi dans la notice
    Structure de recherche

Stanford Synchrotron Radiation Lightsource, National Synchrotron Light Source II et Columbia University, avec 7 autres affiliations.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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