2025 conference-paper

Is the Required Truncation Region the Same for Arbitrary Targets? — Insights from Near-Field Circular STMR Measurements

Changyu Lou, Yuchen Zhang, Jingcheng Zhao, X. Wu, Zongkai Yang, Jungang Miao

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Titre Crossref: Is the Required Truncation Region the Same for Arbitrary Targets? — Insights from Near-Field Circular STMR Measurements
Date Crossref: 18/11/2025
Éditeur: IEEE
Type: proceedings-article

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Les institutions déclarées

Beihang University

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Les sujets associés

Electromagnetic Compatibility and MeasurementsNear-Field Optical MicroscopyNon-Destructive Testing Techniques

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