High resolution analysis of tungsten doped amorphous carbon thin films
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Rattachement africain : pl, de. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- High resolution analysis of tungsten doped amorphous carbon thin films
- Date Crossref
- 10/12/2011
- Éditeur
- Springer Berlin Heidelberg
- Type
- book-chapter
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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Warsaw University of Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Max Planck Institute for Plasma Physics pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Max Planck Society pays non établi dans la noticeOrganisation à but non lucratif
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Faculty of Material Science and Engineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Max-Planck-Institut für Plasmaphysik pays non établi dans la noticeStructure de recherche
Warsaw University of Technology, Max Planck Institute for Plasma Physics et Max Planck Society, avec 2 autres affiliations.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
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