Gate Oxide TDDB Lifetime Evaluation of SiC MOSFETs by HTGB Test Using Square Wave Voltage
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#46
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Chiba Institute of Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Tokyo Metropolitan University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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The University of Tokyo pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Chiba Institute of Technology, Tokyo Metropolitan University et The University of Tokyo.
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