Temperature-dependent performance characterization of 4H-SiC PIN detectors for alpha-particle detection (25–90 °C)
1Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
3Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Temperature-dependent performance characterization of 4H-SiC PIN detectors for alpha-particle detection (25–90 °C)
- Date Crossref
- 01/04/2026
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
-
Jilin University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Chinese Academy of Sciences pays non établi dans la noticeOrganisme public
-
Institute of High Energy Physics pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
Shandong Institute of Advanced Technology pays non établi dans la noticeStructure de recherche
Jilin University, Chinese Academy of Sciences et Institute of High Energy Physics, avec 1 autre affiliation.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Les sujets associés
Silicon Carbide Semiconductor TechnologiesParticle Detector Development and PerformanceRadiation Effects in Electronics