Development of high gain / MTF CMOS electron detectors for transmission electron microscopes
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2Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : fr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
The Pixel 2024 proceedings will be bublished in JINST, Journal of Instrumentation, with a standard peer review process
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
Aucun DOI disponible pour le contrôle Crossref.
Les institutions déclarées
Institut Supérieur de l'Aéronautique et de l'Espace (ISAE-SUPAERO)Centre d’Élaboration de Matériaux et d’Études Structurales
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Les sujets associés
Electron and X-Ray Spectroscopy TechniquesAdvanced Electron Microscopy Techniques and ApplicationsCCD and CMOS Imaging Sensors