Hole-doping-assisted epitaxial growth of wafer-scale rhombohedral-stacked bilayer transition-metal dichalcogenides single crystals
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Le résumé fourni par la source
Bilayer rhombohedral-stacked transition-metal dichalcogenides (3R-TMDCs) combining high carrier mobility, good electrostatic control, and exotic switchable polarization are emerging as promising semiconducting channels for beyond-silicon electronics. However, despite great efforts, the growth of wafer-scale bilayer 3R-TMDCs single crystals remains difficult due to challenges in the synergistic control of phase structure and grain orientation. Here we design a hole-doping-assisted strategy to synthesize a series of two-inch bilayer 3R-TMDCs single crystals on c-plane sapphire. The introduction of hole dopants (e.g. Hf, V, Nb, Ta) not only increases the interlayer coupling to break the formation energy degeneracy of bilayer 3R-stacked and hexagonal-stacked TMDCs, but also promotes the parallel steps formation on sapphire surfaces to induce the unidirectionally aligned bilayer grain nucleation. The fabricated ferroelectric semiconductor field-effect transistors based on bilayer Hf-MoS2 demonstrate high endurance (more than 105 cycles) and long retention time (exceeding one year) due to the restriction of interlayer charge defect migration/aggregation caused by sliding ferroelectricity. This work proposes a promising strategy for synthesizing wafer-scale ferroelectric semiconductor single crystals, which could promote the further exploration of logic-in-memory chips. 2D rhombohedral-stacked transition metal dichalcogenides (3R-TMDs) combine high carrier mobility and ferroelectricity, but their large-scale synthesis remains challenging. Here, the authors report a hole-doping-assisted strategy to synthesize various wafer-scale bilayer 3R-TMD single crystals, showing the realization of high-performance ferroelectric transistors.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Hole-doping-assisted epitaxial growth of wafer-scale rhombohedral-stacked bilayer transition-metal dichalcogenides single crystals
- Date Crossref
- 06/11/2025
- Éditeur
- Springer Science and Business Media LLC
- Type
- journal-article
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Où se fait cette recherche
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Wuhan University The Institute for Advanced Studies pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Peking University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Hunan University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Henan Normal University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Wuhan University of Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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University of Chinese Academy of Sciences Center of Materials Science and Optoelectronics Engineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Wuhan University of Science and Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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School of Physics and Technology Key Laboratory of Artificial Micro- and Nano-Structures of Ministry of Education pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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School of Materials Science and Engineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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College of Semiconductors (College of Integrated Circuits) pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
The Institute for Advanced Studies — Wuhan University, Peking University et Hunan University, avec 7 autres affiliations.
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