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Accès ouvert déclaré 2026 article

Near-perfect efficiency in X-ray phase microtomography

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2Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : de, ch. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

X-ray microtomography at synchrotron sources is fundamentally limited by the high radiation dose applied to the samples, which restricts investigations to non-native tissue states and thereby compromises the biological relevance of the resulting data. The limitation stems from inefficient indirect detection schemes that require prolonged exposures. Efforts to extract additional contrast through multi-modal techniques, like modulation-based imaging, worsen the problem by requiring multiple tomographic scans. In addition, the techniques suffer from low modulator pattern visibility, which reduces measurement efficiency and sensitivity. We address both the detection efficiency and modulation visibility challenges using a setup that combines an X-ray waveguide, a structured phase modulator, and a photon-counting detector. Our approach simultaneously achieves near-theoretical limits in both visibility (95%) and quantum efficiency (98%), thereby enabling dose-efficient multi-modal microtomography at single-micrometer resolution. This advance represents an important step toward routine multi-modal microtomography of native-state biological specimens with the potential to advance biomedical research and disease diagnosis.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Near-perfect efficiency in X-ray phase microtomography
Date Crossref
05/02/2026
Éditeur
Optica Publishing Group
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Advanced X-ray Imaging TechniquesCrystallography and Radiation PhenomenaAdvanced Electron Microscopy Techniques and Applications

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