Aller au contenu principal
Accès ouvert déclaré 2025 article

Atomic Force Microscopy and Scanning Electron Microscopy for Characterization of Interface Surface Roughness After ELITA Femtosecond Laser Treatments

2Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
3Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : ca, es. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Purpose: To characterize and compare the corneal interface surface roughness of the ELITA femtosecond laser flap and smooth incision lenticular keratomileusis (SILK) to the iFS femtosecond laser flap with atomic force microscopy (AFM) and scanning electron microscopy (SEM). Methods: The iFS flap with 700 nJ pulse energy, ELITA flap with 50 nJ, and ELITA SILK with 50 nJ were performed on a total of 12 ex vivo porcine eyes. After laser treatment and mechanical separation, the posterior surface of the laser-treated interface was trephined, fixated, and dehydrated. The corneal interface surface roughness was assessed with AFM in contact mode. For AFM, 15 eye locations (three eyes, 5 locations each) for each treatment were evaluated with a 20 × 20-µm scanning area and 512 × 512-pixel resolution. The root mean square (RMS) roughness for each treatment method was measured. With SEM, representative images were taken with 100× and 250× magnification. Results: The RMS roughness of the iFS flap, ELITA flap, and ELITA SILK was 236 ± 64 nm, 114 ± 33 nm, and 203 ± 84 nm, respectively. ELITA flap interface surface roughness was significantly less than that of the iFS flap (P < 0.001) and ELITA SILK (P < 0.001). Conclusions: The ELITA flap produced a smoother corneal interface surface compared to the iFS flap and ELITA SILK, while the iFS flap and ELITA SILK produced similar corneal interface surface roughness. Translational Relevance: This study suggests that the ELITA femtosecond laser's ability to create smoother corneal interfaces may enhance visual acuity recovery time.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Atomic Force Microscopy and Scanning Electron Microscopy for Characterization of Interface Surface Roughness After ELITA Femtosecond Laser Treatments
Date Crossref
23/10/2025
Éditeur
Association for Research in Vision and Ophthalmology (ARVO)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Johnson & Johnson (Canada) pays non établi dans la notice
    Entreprise
  • Universidad de Alcalá pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Clínica Rementería pays non établi dans la notice
    Établissement de santé
  • Inc. Johnson and Johnson Surgical Vision pays non établi dans la notice
    Entreprise
  • Clínica Novovisión pays non établi dans la notice
    Établissement de santé

Johnson & Johnson (Canada), Universidad de Alcalá et Clínica Rementería, avec 2 autres affiliations.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Corneal surgery and disordersCorneal Surgery and TreatmentsOcular Surface and Contact Lens

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.