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2025 conference-paper

Mapping of the Lattice Strain Tensor in Defect-Free Si1-xGex/SOI Multilayers Fabricated by Lateral-Selective Heteroepitaxy

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Titre Crossref
Mapping of the Lattice Strain Tensor in Defect-Free Si<sub>1-x</sub>Ge<sub>x</sub>/SOI Multilayers Fabricated by Lateral-Selective Heteroepitaxy
Date Crossref
17/09/2025
Éditeur
The Japan Society of Applied Physics
Type
proceedings-article

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