Mapping of the Lattice Strain Tensor in Defect-Free Si1-xGex/SOI Multilayers Fabricated by Lateral-Selective Heteroepitaxy
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- Titre Crossref
- Mapping of the Lattice Strain Tensor in Defect-Free Si<sub>1-x</sub>Ge<sub>x</sub>/SOI Multilayers Fabricated by Lateral-Selective Heteroepitaxy
- Date Crossref
- 17/09/2025
- Éditeur
- The Japan Society of Applied Physics
- Type
- proceedings-article
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