Surface nanopatterning of Si by ion beam irradiation with sub-sputter-threshold energy
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Artículos en revistas
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Surface nanopatterning of Si by ion beam irradiation with sub-sputter-threshold energy
- Date Crossref
- 07/10/2025
- Éditeur
- American Physical Society (APS)
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
Sookmyung Women's UniversityKorea Research Institute of Standards and ScienceJeonbuk National UniversityUniversidad Carlos III de MadridUniversidad Pontificia Comillas
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Les sujets associés
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