Advanced envelope method for characterization of a single thin film on a substrate from its normal incidence UV-Vis-NIR transmittance spectrum: a case study of a-Si films
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Le contrôle bibliographique ouvert
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- Titre Crossref
- Advanced envelope method for characterization of a single thin film on a substrate from its normal incidence UV-Vis-NIR transmittance spectrum: a case study of a-Si films
- Date Crossref
- 01/01/2025
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- posted-content
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Les institutions déclarées
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Les sujets associés
Thin-Film Transistor TechnologiesSurface Roughness and Optical MeasurementsThermography and Photoacoustic Techniques