Intricate stress pattern in GaN epi wafers visualized and quantified by cameraless T-ray imaging and pump-probe reflectance spectroscopy
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- Titre Crossref
- Intricate stress pattern in GaN epi wafers visualized and quantified by cameraless T-ray imaging and pump-probe reflectance spectroscopy
- Date Crossref
- 01/01/2026
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
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Institutions déclarées
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Sujets associés
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