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Accès ouvert déclaré 2025 article

Magnetic imaging under high pressure with a spin-based quantum sensor integrated in a van der Waals heterostructure

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2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : fr, us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Pressure is a powerful tool for tuning the magnetic properties of van der Waals magnets owing to their weak interlayer bonding. However, local magnetometry measurements under high pressure still remain elusive for this important class of emerging materials. Here we demonstrate magnetic imaging of a van der Waals magnet under high pressure with sub-micron spatial resolution, using a two-dimensional (2D) quantum sensing platform based on boron-vacancy ( $${{{\rm{V}}}}_{{{\rm{B}}}}^{-}$$ ) centers in hexagonal boron nitride (hBN). We first analyze the performances of $${{{\rm{V}}}}_{{{\rm{B}}}}^{-}$$ centers in hBN for magnetic imaging under pressures up to few GPa, and we then use this 2D sensing platform to investigate the pressure-dependent magnetization in micrometer-sized flakes of 1T-CrTe2. Besides providing a new path for studying pressure-induced phase transitions in van der Waals magnets, this work also opens up interesting perspectives for exploring the physics of 2D superconductors under pressure via local measurements of the Meissner effect. NV center-based quantum sensors integrated into diamond anvil cells have enabled magnetic imaging under high pressure but are less suited for studying magnetic van der Waals materials. Here, the authors demonstrate magnetic imaging of micrometer-sized flakes of 1T-CrTe2 under high pressure using spin-centers in a thin hBN layer.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Magnetic imaging under high pressure with a spin-based quantum sensor integrated in a van der Waals heterostructure
Date Crossref
29/09/2025
Éditeur
Springer Science and Business Media LLC
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

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