Charge Density Study of Simple Inorganic Solids Using Synchrotron Single Crystal X-ray Diffraction
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2Institutions déclarées
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Rattachement africain : jp. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Charge Density Study of Simple Inorganic Solids Using Synchrotron Single Crystal X-ray Diffraction
- Date Crossref
- 29/09/2025
- Éditeur
- American Chemical Society (ACS)
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
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Les sujets associés
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