Single-shot spectroscopic ellipsometry using a metasurface array
Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
We demonstrated a compact metasurface array-based spectroscopic ellipsometry system that allows single-shot spectropolarimetric detection and accurate determination of thin film properties without any mechanical movement.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Single-shot spectroscopic ellipsometry using a metasurface array
- Date Crossref
- 01/01/2025
- Éditeur
- Optica Publishing Group
- Type
- proceedings-article
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Les institutions déclarées
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