Sampling from exponential distributions in the time domain with superparamagnetic tunnel junctions
Rattachement africain : us, fr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
This work explores time domain statistics of superparamagnetic tunnel junctions (SMTJs). We leverage a temporal encoding scheme to experimentally sample exponential distributions from the dwell time statistics of these devices. We develop SMTJ-based circuits called probabilistic delay cells to produce stochastic time-delayed digital rising edges and describe circuits that can leverage these exponentially delayed signals to sample from other distributions of interest and use them as hardware primitives for probabilistic computations.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Sampling from exponential distributions in the time domain with superparamagnetic tunnel junctions
- Date Crossref
- 19/09/2025
- Éditeur
- SPIE
- Type
- proceedings-article
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Où se fait cette recherche
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University of Maryland pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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National Institute of Standards and Technology pays non établi dans la noticeOrganisme public
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Spintronique et Technologie des Composants pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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National Institute of Standards & Technology (United States) pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Spintec (France) pays non établi dans la noticeInstitution
University of Maryland, National Institute of Standards and Technology et Spintronique et Technologie des Composants, avec 2 autres affiliations.
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