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2025 conference-paper

Progress on type-II superlattice-based long-wavelength infrared photodetectors

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Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

In this paper, we report recent progress in Type-II superlattice (T2SL) based long-wavelength (LW) infrared photodetectors. The InAs/GaSb based LW superlattice structure has been redesigned for optimal photon absorbance, barrier performance for low dark current, and enhanced operability. Moreover, the superlattice structure was processed into 640×512, pixel pitch 15μm focal plane arrays (FPA) with a long-wavelength approximately ranging from 7.3-9.6μm, with simultaneous readout mode. Both dry etching and passivation for the detector devices were optimized during the process to achieve high quality disk mesa. Furthermore, after flip-chip bonded with customized read-out integrated circuits (ROIC), the noise equivalent temperature difference (NETD) of the FPAs were measured as 25.3mK, with response non-uniformity of 3.48%. The detectors presented high-quality infrared images with defective pixel densities under 0.1% for LW. Also, the aforementioned LW superlattice infrared photodetectors were designed for high operability, temporal stability, reproducibility, scalability, and cost effectiveness. This progress could pave the road for the production of ecomonic and high-performance T2SL based LW infrared photodetectors.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Progress on type-II superlattice-based long-wavelength infrared photodetectors
Date Crossref
15/09/2025
Éditeur
SPIE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • North China Research Institute of Electro-optics pays non établi dans la notice
    Structure de recherche

North China Research Institute of Electro-optics.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Advanced Semiconductor Detectors and MaterialsSpectroscopy and Laser ApplicationsOptical Coatings and Gratings

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