Aller au contenu principal
Accès ouvert déclaré 2025 article

Leveraging graph attention networks for enhanced latent defect detection in precision built-in spindle assembly lines

0Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
1Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : tw. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

This study introduces a novel approach employing Graph Attention Networks (GAT) to detect pre-installation defects in built-in spindles. Traditional quality control relies heavily on manual inspections and basic mechanical testing, which often miss subtle defects. Using vibration datasets from 13 spindles with identical specifications, this research applies a GAT-based diagnostic method, transforming vibration signals into graph representations. GAT’s attention mechanism effectively extracts essential node and structural features, enabling early and accurate defect identification. Experimental results demonstrate that the proposed GAT model significantly outperforms conventional techniques such as k-nearest neighbors (KNN), Support Vector Machines (SVM), and Graph Convolutional Networks (GCN). By adding noise to simulate harsh operational conditions, the GAT model maintained superior clustering and classification performance, achieving 100% accuracy under noiseless conditions and exhibiting exceptional robustness even at a challenging −5 dB signal-to-noise ratio (SNR). Additionally, GAT effectively handles imbalanced datasets and displays strong generalization capabilities, underscoring its practical industrial potential. This research marks a notable advancement in spindle manufacturing quality control, highlighting promising future directions for deep learning in industrial diagnostics.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Leveraging graph attention networks for enhanced latent defect detection in precision built-in spindle assembly lines
Date Crossref
01/08/2025
Éditeur
SAGE Publications
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Industrial Vision Systems and Defect DetectionManufacturing Process and OptimizationAdvanced Neural Network Applications

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.