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2025 conference-paper

Computational Complexity Analysis of Arc Fault Detection Algorithms for Photovoltaic Systems

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Résumé fourni par la source

Photovoltaic (PV) systems are increasingly prevalent, but they introduce the risk of arc faults, which can lead to dangerous fires. Arc Fault Detection (AFD) algorithms are crucial for mitigating this danger. Although there are several AFD algorithms, their computational complexity can significantly impact real-time performance, especially on resource-limited embedded systems. In that sense, this work analyzes the computational complexity of three representative AFD algorithms based on: Fast Fourier Transform (FFT), Principal Component Analysis (PCA), and Variational Mode Decomposition (VMD). Big-O notation is a common tool for complexity analysis, but it often overlooks constant factors that become significant for small input sizes typical in AFD. We demonstrate these limitations by comparing Big-O estimates with the actual execution times of the three algorithms. The results highlight substantial discrepancies, particularly for VMD, which has the highest complexity. To address this, we propose a refined complexity analysis that incorporates low order terms. This approach provides more accurate execution time estimates, crucial for selecting appropriate AFD algorithms for embedded hardware with limited processing power.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Computational Complexity Analysis of Arc Fault Detection Algorithms for Photovoltaic Systems
Date Crossref
08/06/2025
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude et ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Institutions déclarées

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Sujets associés

Fault Detection and Control SystemsIndustrial Vision Systems and Defect DetectionEngineering and Test Systems

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