Aller au contenu principal
Accès ouvert déclaré 2025 article

Sub-nanometer address grid in variable shaped e-beam lithography for efficient inscription of high-precision large-area optical gratings

0Citations signalées — pas une note de qualité
2Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Résumé fourni par la source

High-performance, large-area optical gratings for applications like chirped pulse amplification, gravitational wave astronomy, and X-ray optics require sub-nanometer line placement control over several cm 2 . Electron beam lithography with a variable shaped beam (VSB) is well suited but limited by tool-dependent address grid discretization. We adapted address grid interpolation to the VSB method, reducing the effective placement grid to 25 pm, as confirmed by stray light measurements. The technique was further demonstrated on a 0.5 cm ×5 cm phase mask for chirped fiber Bragg gratings (100 pm/mm), achieving excellent spectral broadband reflection quality.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Sub-nanometer address grid in variable shaped e-beam lithography for efficient inscription of high-precision large-area optical gratings
Date Crossref
13/11/2025
Éditeur
Optica Publishing Group
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude et ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Sujets associés

Optical Coatings and GratingsPhotonic and Optical DevicesNanofabrication and Lithography Techniques

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Recherche à la demande dans Crossref et Europe PMC, sans clé ; OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant requis, aucune réponse conservée. Sources et limites.