Low Voltage Bandgap Reference using Intelligent Layout Generators in 22 nm FDSOI CMOS
Rattachement africain : de. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
This paper presents a low-voltage bandgap reference (BGR) circuit fabricated using 22 nm CMOS fully-depleted silicon on insulator (FDSOI) technology, incorporating an adaptive body-basing technique. During the design phase, the gm/IDmethodology and the Intelligent IP (IIP) generators are utilized as essential reference strategies. The circuit occupies a chip area of 0.044 mm2and consumes only 1.8 µA of current from a 1.5 V DC supply voltage. It provides an output reference voltage of 610 mV, with a temperature coefficient (TC) of 37 ppm/°C. Additionally, it provides a current reference of 0.4 µA, with a temperature coefficient of 60 ppm/°C, and operates effectively over a wide temperature range of −40 °C to 125 °C. Furthermore, the proposed circuit offers a power supply rejection ratio of 63 dB, making it a suitable solution for low-power, stable reference voltage applications.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Low Voltage Bandgap Reference using Intelligent Layout Generators in 22 nm FDSOI CMOS
- Date Crossref
- 07/07/2025
- Éditeur
- IEEE
- Type
- proceedings-article
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Où se fait cette recherche
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Technische Universität Braunschweig pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Fraunhofer Institute for Integrated Circuits IIS pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Institute for CMOS Design TU Braunschweig pays non établi dans la noticeStructure de recherche
Technische Universität Braunschweig, Fraunhofer Institute for Integrated Circuits IIS et TU Braunschweig — Institute for CMOS Design.
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