Aller au contenu principal
Accès ouvert déclaré 2025 article

Characterization of grating monochromator performance based on start-to-end FEL pulse propagation method

0Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
5Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Grating monochromators are crucial optical elements in soft X-ray free-electron laser (XFEL) beamlines. Accurately evaluating the properties of grating monochromators with near-realistic XFEL pulse is of paramount importance. In this study, we utilize the start-to-end pulse propagation method to conduct a characterization of grating monochromator performance at the FEL-1 beamline of S 3 FEL. The primary focuses include evaluating the monochromator's resolving power, assessing the impact of longitudinal source jitter on resolving power, analyzing diffraction effects due to grating's limited aperture and investigating the influence of thermal deformation. The novelty of this research lies in the direct use of FEL pulse propagation, providing simulation results that are more reliable than those obtained using Gaussian sources. The simulations reveal that the resolving power of the monochromator is significantly influenced by the aforementioned factors, highlighting the importance of considering real FEL beam characteristics in the design and evaluation of grating monochromators for FEL applications.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Characterization of grating monochromator performance based on start-to-end FEL pulse propagation method
Date Crossref
31/07/2025
Éditeur
International Union of Crystallography (IUCr)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Advanced X-ray Imaging TechniquesAdvanced Surface Polishing TechniquesParticle Accelerators and Free-Electron Lasers

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.