In-situ nanoscale thickness monitoring of passive films based on electrochemical-surface plasmon resonance sensing technology
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2Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- In-situ nanoscale thickness monitoring of passive films based on electrochemical-surface plasmon resonance sensing technology
- Date Crossref
- 01/12/2025
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
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